日本densoku電気抵抗式膜厚計 RST-231

日本densoku電気抵抗式膜厚計 RST-231

電気抵抗式膜厚計 RST-231

操作が簡単で短時間（0.7秒）
絶縁物上の金屬皮膜を高精度に測定

?絶縁物上の金屬皮膜を0.7秒で測定 
?パソコン使用で見やすい畫面 
?較正や測定が簡単 
?ヒストグラム、プロファイルなどすぐに閲覧可能 
?異常値検知機能

電気抵抗式膜厚計 RST-231 の特長

絶縁物上の金屬皮膜を0.7秒で測定

絶縁物上の金屬皮膜（プリント基板の銅箔?めっきなど）を短時間（0.7秒）に高精度で測定します。

見やすい畫面構成

パソコン使用で畫面が大きく、明るく、見やすい畫面構成です。

較正や測定が簡単

較正や測定が簡単。2種類の測定レンジが選択できます（2～24μm、10～120μm）。

各種図がすぐに見られる

統計処理後、ヒストグラム、プロファイル、x-R管理図がいつでもすぐに見られます。

異常値検知機能

膜厚の上下限を設定しておくと異常値に対して通知します。

探針1本ごとに交換に対応

プローブの探針を破損した場合、探針1本ごとに交換でき低価格での修理が可能です。

統計処理が容易

測定データをチャンネルごとに保存でき、測定データに対し後から統計項目を設定し統計処理を行なうことができます。

40チャンネルまで登録可能

40チャンネルまで登録できるので、ユーザー名や部品番號などにより別々の登録をしてチャンネルの管理ができます。

探針1本ごとに交換に対応

4探針プローブ（ケルビン式）を採用しており、両面基盤や多層基盤も裏面や內部層の影響を受けず高精度の測定ができます。

ヒストグラム

x-R管理図

統計量表示

測定原理

プローブには直線上に4本の金屬ピン（探針）立っています。 この4本の探針を測定する絶縁物上の金屬箔や金屬めっき面に接觸させます。外側の2本探針に一定の電流（I）を流し、電圧（V）を測定します。探針を接觸させている金屬箔や金屬めっきの厚さ（T）は、一定の條件下では下記の式で計算できます。 T　=　K　×　I　÷　V ここではKは定數 従って、內側の2本の探針間の電圧を測定すれば、金屬箔や金屬めっきの厚さを測定できます。

電気抵抗式膜厚計 RST-231 の仕様?4探針プローブ仕様

（注）仕様は予告なく変更されることがあります。